高低温冲击试验箱

产品用途

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

二箱式:上部为高温箱,下部为低温箱,两箱之间由样品架连结,经气动系统在两箱间切换。

产品符合标准

设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13GJB-150.5  GJB1217等标准的要求。

技术参数  

 

型号

WDCJ-162

WDCJ-340

WDCJ-500

WDCJ-010

工作室尺寸:mm

450×450×450

600×600×600

800×800×800

1000×1000×1000

样品区尺寸:mm

300×300×250

450×450×360

650×650×500

850×850×700

 

温度范围

A:-20℃~200

B:-40℃~200

C:-60℃~200

温度波动

高温室及低温室均≤±2

样品区温度波动

≤±0.5℃(恒温时)

样品区承重

20kg

30kg

50kg

温度运行控制系统

控制器

日本进口UMC-1300真彩触摸屏(PIDSSR)微电脑集成控制器

韩国进口TEMI880真彩触摸屏(PIDSSR)微电脑集成控制器

(选其一)

精度范围

设定精度:温度±0.1℃,指示精度:温度±0.1℃,解析度:±0.1

制冷系统

进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

循环系统

耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮

温度转换时间

从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S

温度恢复时间

≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

温度冲击方法

垂直两箱法 (两箱式冷热冲击试验箱 )

以上为标准型试验箱,可根据用户的具体要求定做非标型

本技术信息,如有变动恕不另行通知

 
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